Test and Design for Testability for Digital Systems
Test und testfreundlicher Entwurf digitaler Schaltungen und Systeme
6 CPWinterDEno longer offered
Prerequisites
Recommended, as written
Gute Kenntnisse der Digitaltechnik und elektronischer Grundlagen integrierter Schaltungen.
Contents
Definitionen: Test, Validierung, Verifikation. Test wann und wo: IC-Test als Spezialfall, Fertigungstest, On-line und off-line-Test. Struktur-orientierter Test: Komplexität, Fehlermodelle, Testbarkeit über Spannungen und Ströme, Testerzeugung, Fehlersimulation. Systematischer testfreundlicher Entwurf: Partitioinierung, Test-Access, Scan-Test, Boundary Scan, Kompression und Dekompression von Testdaten, Fehlerdiagnose beim Scan-Test. Eingebauter Selbsttest: Basis-Strukturen (LFSR, MISR), deterministischer BIST. Speichertest: Fehlermodelle, Komplexität, March-Tests, BIST. On-line-Test: Fehlererkennungsschaltungen, Fehlerkompensation. Testgeräte: IC-Tester, Fehleranalyse.
Learning outcomes
Studierende lernen, digitale Schaltungen und Systeme systematisch für gute Testbarkeit oder für den eingebauten Selbsttest zu entwerfen. Sie beherrschen die wesentlichen Methoden und Werkzeuge für den systematischen testfreundlichen Entwurf und können die Testbarkeit und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen analysieren und beurteilen.
Assessment
Erfolgreiche Teilnahme an praktischen Übungen (Schein, unbenotet). Mündliche Prüfung.
Literature (1)
- Skript der Vorlesung und Präsentationen sind elektronisch verfügbar. Literaturliste wird zu Beginn der Veranstaltung bekannt gegeben. Aufgaben und Versuchsanleitungen sind elektronisch verfügbar.
Remarks
Die Unterrichtssprache in diesem Modul kann auch Englisch sein. - Studiengang Informatik Diplom, Säule „Angewandte und Technische Informatik“, Niveaustufe 500 - Studiengang Informatik Master, Komplex „Angewandte und Technische Informatik", Niveaustufe 500 - Studiengang IMT Master, Komplex „Rechnerbasierte Systeme" - Studiengang Physik, Wahlfach (bei guten Kenntnissen der Elektronik)
Source: BTU's module description · retrieved 20 Oct 2026Original